Zertifiziert nach ISO 9001

Analytische Verfahren

Liste der eingesetzten Verfahren

TOF-SIMS
(Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie)

FTIR
(Fourier-Transform-Infrarotspektroskopie

XPS, ESCA
(Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie)

AES
(Auger-Elektronen-Spektroskopie)

SNMS
(Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie)

GDOS
(Glimmlampenemissions-Spektralanalyse)

AFM
(Rasterkraftmikroskopien)

REM / EDX
(Rasterelektronenmikroskopie mit
energiedispersiver Röntgenanalyse)

TEM
(Transmissionselektronenmikroskopie)

XRD
(Röntgendiffraktometrie)

Lichtmikroskopie
Gegebenenfalls werden weitere Spezialvarianten der Verfahren eingesetzt, ergänzt durch klassische Methoden der Werkstoffprüfung, der chemischen Analytik oder der physikalischen Messtechnik

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