Analytische Verfahren

OFG-Analytik nutzt für die Untersuchungen alle heute zur Verfügung stehenden Methoden der:

  • Oberflächenanalytik
  • Dünnschichtanalytik
  • Mikrobereichsanalytik

Die Auswahl des optimalen Verfahrens bzw. der optimalen Verfahrenskombination richtet sich hierbei ausschließlich nach der individuellen Fragestellung des Kunden.

In Kombination mit einer geeigneten Probenpräparation und unseren langjährigen Erfahrungen bei der Datenauswertung können wir Ihnen alle relevanten Informationen zur chemischen Zusammensetzung, zum Schichtaufbau und Mikrostruktur Ihrer Produkte und Materialien liefern.

Verfahrensliste

TOF-SIMS
Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie

FTIR
Fourier-Transform-Infrarotspektroskopie

XPS, ESCA
Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie

SNMS
Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie

GDOS
Glimmlampenemissions-Spektralanalyse

AFM
Rasterkraftmikroskopien

REM / EDX
Rasterelektronenmikroskopie mit
energiedispersiver Röntgenanalyse

XRD
Röntgendiffraktometrie

Lichtmikroskopie

Weitere Verfahren auf Anfrage

Gegebenenfalls werden weitere Spezialvarianten der Verfahren eingesetzt, ergänzt durch klassische Methoden der Werkstoffprüfung, der chemischen Analytik oder der physikalischen Messtechnik

ToF-SIMS
ToF-SIMS
FT-IR Mikroskop
FT-IR Mikroskop

Analytische Informationen

Welche Informationen liefern die Verfahren?

Moderne oberflächen- und dünnschicht- analytische Verfahren können submikroskopisch kleine Probenbereiche und geringste Substanzmengen abbilden und mit höchster Empfindlichkeit analysieren.

Je nach Fragestellung führen wir Untersuchungen durch zur:

Bestimmung der chemischen Zusammensetzung

  • von beliebigen Werkstoffen oder Bauteiloberflächen
  • von Grenzflächen zwischen schlecht haftenden Schichtbereichen
  • von organischen Spurenkontaminationen
  • von funktionell beschichteten oder vorbehandelten Oberflächen
  • von Werkstoffen im Volumenmaterial (Werkstoffbestimmung)
  • von Ablagerungen, Belägen, Ausblühungen an Bauteiloberflächen
  • von Rissflächen

Material-Charakterisierung und -Identifizierung

  • Fetten, Ölen, Tensiden, Trennmitteln
  • Kunststoff-/Öl-Additiven
  • Lack-, Farb-, Kleber-Komponenten
  • Kunststoffen, Polymeren, Biomolekülen, Pharmazeutika
  • Aerosolteilchen (adsorbiert an Auslegebleche)
  • Partikeln, Fasern, Einschlüssen
Lackschiff

Bestimmung des Schichtaufbaus von Mehrschichtsystemen

  • Darstellung der Schichtfolge im Querschliff oder Querschnitt
  • Bestimmung der Einzelschichtdicken
  • Bestimmung der Elementzusammensetzung als Funktion der Schichttiefe (Tiefenprofilanalyse)
  • Charakterisierung von Einschlüssen im Schichtaufbau
  • Anreicherung von Fremdelementen in den Grenzflächen zwischen Einzelschichten
Zink

Darstellung der Topographie und Mikrostruktur

  • Topographie beliebiger Werkstoff-/ Produktoberflächen
  • Bestimmung von Mikrorauheiten und Rauheitskennwerten
  • Abbildung von Mikropartikeln, Fasern
  • Darstellung mikro-/ nanostrukturierter Oberflächen
  • Darstellung submikroskopisch kleiner Fehlstellenbereiche