Materialanalysen von PFAS und PDMS
Präzise Materialprüfung von polymerbasierten Schmierstoffen
Materialanalysen von PFAS und PDMS
Die stetige Weiterentwicklung der Materialanalytik ermöglicht heute die präzise
Analyse vieler Substanzen. Infolgedessen können auch komplexe Verbindungen, wie
polymerbasierte Schmierstoffe analysiert werden. Besser bekannt sind
polymerbasierte Substanzen als per- und polyfluorierte Alkylsubstanzen (PFAS)
sowie Polydimethylsiloxane (PDMS). Die Nutzung von polymerbasierten
Verbindungen ist in der Industrie weit verbreitet – und für einige Industrien
unverzichtbar. Häufig finden sie Verwendung als Kontaktschutzöl. Gründe dafür sind
ihre einzigartigen physikalischen und chemischen Eigenschaften. Perfluorierte
Polyether (PFPE), Substanzen aus der PFAS-Gruppe, besitzen außergewöhnliche
Eigenschaften. Sie sind chemisch beständig, weisen eine geringe
Oberflächenspannung auf und sind thermostabil. PDMS findet Verwendung aufgrund
thermostabiler Eigenschaften, geringem Reibwert und geringer Oberflächenenergie,
weshalb sie auch gerne als Trennmittel Verwendung finden.
Beispielbranchen
- Elektronikindustrie
- Automobilindustrie
- Medizin
- Lebensmittelindustrie
- Luft- und Raumfahrttechnik
- Prozessindustrie
- Glasindustrie (Optik)
Typisches Verwendung
- Kontaktschutzöl auf Relais, Steckkontakten,
Elektromotoren und Schleifringen - Schutz vor Feuchtigkeit, Oxidation (Korrosion) und Staub
- Kontaktschutzöl an Sensoriken und Steckkontakten
- Schutz vor Feuchtigkeit und Oxidation (Korrosion)
- Schmiermittel (Schutzfilm) von Prothesen und Implantaten
- Reduzierung der Reibung
- Trennmittel bei Pflastern
- Antihaftbeschichtungen
- Beschichtungen, Schmierstoffe, Schutzöle
- Stabilität gegenüber extremen Zustandsgrößen (Temperaturen, Drücken, …)
- Dichtungs- und Schmierstoffe in Reaktoren
- Chemische Stabilität gegenüber korrosiven Umgebungen
- Schutzfilm (Antikratzbeschichtung)
- Hydrophobe Beschichtung (Lotus-Effekt)
Materialanalysen zur Strukturaufklärung von PFPE und PDMS mit dem TOF-SIMS Verfahren
Ergebnisse: TOF-SIMS-Analyse an polymerbasierten Schmierstoffen
Die Analyse von Schmierstoffen mit dem TOF-SIMS Verfahren liefert detaillierte Informationen über ihre chemische Zusammensetzung. Darüber hinaus können Verunreinigungen, Fremdkontaminationen aber auch chemisch-physikalische Veränderung durch Degradation identifiziert werden.
Fallbeispiel 1: Charakterisierung der Wiederholeinheit und des Molekulargewichts eines PFPEs
Fallbeispiel 2: vergleichende Materialanalysen von PFPE - Kontaktschutzölen
Fallbeispiel 3: Materialanalyse von medizinischen Beschichtungen auf PDMS-Basis
Die Materialanalyse mittels TOF-SIMS ermöglichte die genaue Charakterisierung der PDMS-Beschichtung. Die Ergebnisse zeigen, dass es sich um ein niedermolekulares CH₃-terminiertes PDMS mit einem mittleren Molekulargewicht von 2000 u handelt. Durch die CH₃-Endgruppen ist gewährleistet, dass es zu keinen Reaktionen im Körper kommt (beispielsweise der Reaktion mit Wasser). Es ist dementsprechend ungiftig für den menschlichen Organismus.
Zusammenfassung: Schadens- und Materialanalyse an PFAS/PFPE und PDMS
Erfahrungen aus der Praxis zeigen, dass vermeintlich gleiche PFPE und PDMS Schmierstoffe Unterschiede in ihrer chemischen Zusammensetzung und Struktur aufweisen. Der Gebrauch falscher Schmierstoffe kann beispielweise zu erhöhtem Verschleiß, Belägen auf elektrischen Kontakten und benachbarten Bauteilen führen, was schließlich zu Funktionsausfällen und kostenintensiven Reparaturen führen kann.
Die TOF-SIMS Technologie bietet eine effiziente Methode zur Material- und Schadensanalytik von polymerbasierten Schmierstoffen wie PFPE oder PDMS. Die hohe Empfdindlichkeit ermöglicht:
- Exakte Materialanalyse: präzise Charkateriserung von Grundölen, Additiven, Wiederholeinheiten und Molukulargewichtsverteilungen poylmerbasierter Schmierstoffe
- Flexible Probennahme: Probennahme zerstörungsfrei, auch vor Ort umsetzbar
Veröffentlichungen
H.Feld, N. Oberender, J. Hellwig: Oberflächen Polysurfaces, 4 (2022) 18 – 20.
²Secondary Ion Emission from Perfluorinated Polyethers under MeV- and keV-Ion Bombardment.
H. Feld, A. Leute, D. Rading, and A. Benninghoven; M. P. Chiarelli and D. M. Hercules: Analytical Chemistry, 65 (1993) 1947 – 1953.
DOI: https://doi.org/10.1021/ac00063a005