Dienstleistung

Fehler- und Schadensanalytik

In Produktionsketten kommt es trotz hoher Standards in der Qualitätssicherung und -kontrolle immer wieder zu Ausfällen oder Schäden an Produkten und Bauteilen. Die Fehler- und Schadensanalytik dient in erster Linie der Identifizierung der Ursachen solcher Probleme. Darüber hinaus trägt sie dazu bei, Ausfälle entlang der Wertschöpfungskette zu minimieren und Produktionsprozesse gezielt zu optimieren.

Mit über 30 Jahren Erfahrung auf diesem Gebiet bieten wir unseren Kunden ein breites Spektrum analytischer Unterstützung zur Ursachenforschung individueller Problemstellungen. Neben bildgebenden Verfahren wie der Lichtmikroskopie setzen wir auf moderne Techniken aus der Oberflächen- und Spurenanalytik (beispielsweise TOF-SIMS; Time-of-Flight Mass Spectrometry), um die chemischen Ursachen für Fehler und Schäden eindeutig zu identifizieren.

Dies wird durch die langjährige Bearbeitung einer Vielzahl von Schadensuntersuchungen in unterschiedlichsten Industriezweigen um ein breites Expertenwissen ergänzt. So können wir die Bearbeitung Ihrer Anfrage – von der Konzeption des Analyseplans über die Durchführung der Analytik bis hin zur Ursachenidentifizierung – effizient und zielgerichtet gestalten.

Aktuelle Anwendungsbeispiele zum Thema Fehler- und Schadensanalytik

Hier gelangen Sie zu weiteren Anwendungsbeispielen.

Auszug unserer Verfahren:

  • TOF-SIMS – Time-of-Flight mass spectrometry
  • IR – Infrarotspektroskopie
  • XPS – Röntgenphotoelektronenspektroskopie
  • REM – Rasterelektronenmikroskopie
  • EDX – Energiedispersive Röntgenspektroskopie
  • AFM – Rasterkraftmikroskopie
  • Lichtmikroskopie

Hier finden Sie eine Übersicht weiterer Verfahren.

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