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Systematic Investigation of Secondary Ion Formation from Compact Polymer Materials: Polymethylmetacrylat and Polyethylene Glycol
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Secondary Ion Formation From Polymer Materials: A Systematic Investigation
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Structural Characterization of Model Polyester Polyurethanes Using Time – of – Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
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TOF–SIMS of Model Polyurethanes
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Recent Investigations In TOF-SIMS Of Polymer Materials
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Structural Characterization of Model Polyurethanes Using Time – of – Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
I. V. Bletsos and D. M. Hercules; D. van Leyen and A. Benninghoven; C. G. Karakatsanis and J. N. Rieck: Analytical Chemistry, 61 (1989) 2124 – 2149.
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The Time of Flight Static Secondary Negative Ion Mass Spectra of Poly(methylmethacrylate), Poly- (ethylmethacrylate), and Poly(methylmethacrylate-co-ethylmethacrylate) Ion Structures and Quantification.
J. Lub and F. C. B. M. van Vroonhoven; D. van Leyen and A. Benninghoven: Journal of Polymer Science: Part B: Polymer Physics, 27 (1989) 2071 – 2080.
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D. van Leyen, B. Hagenhoff, E. Niehuis, and A. Benninghoven; I. V. Bletsos and D. M. Hercules: Journal of Vacuum Science & Technology, A7(3) (1989) 1790 – 1794.
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Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry: Detection of Fragments from Thick Polymer Films in the Range m/z ≤ 4500
I. V. Bletsos and D. M. Hercules; J. H. Magill; D. van Leyen and A. Benninghoven: Analytical Chemistry, 60 (1988) 938 – 944.
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Static secondary ion mass spectrometry analysis of polycarbonate surfaces – Effect of structure and of surface modification on the spectra
J. Lub and F. C. B. M. van Vroonhoven; D. van Leyen and A. Benninghoven: Polymer, 29 (1988) 998 – 1003.
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Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry of Polymers in the Mass Range 500 – 10000
I. V. Bletsos and D. M. Hercules; D. van Leyen and A. Benninghoven: Macromolecules, 20 (1987) 407 – 413.
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Submonolayer detection of polymer additives at the surface of industrial products
R. Dietrich: Fresenius J. Anal. Chem., 361 (1998) 692 – 694.
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Comparison of TOF-SIMS with laser desorption FT-ICR for Identification of Polymer Additives
M. Deimel, B. Asamoto, S.R. Bryan, C.L. Judy, R.W. Linton, B. Hagenhoff, A. Benninghoven: Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS VII, p.367 – 370, Wiley, John Wiley & Sons, Chichester 1990.

Secondary Ion Emission from Perfluorinated Polyethers under MeV- and keV-Ion Bombardment.
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Quantitative Time – of – Flight Secondary Ion Mass Spectrometry of a Perfluorinated Polyether.
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Determination of Molecular Weight and Composition of a Perfluorinated Polymer from Fragment Intensities in Time – of – Flight Secondary Ion Mass Spectrometry.
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Time – of – Flight Secondary Ion Mass Spectrometry of Perfluorinated Polyethers.
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DOI: https://doi.org/10.1021/ac00212a015

Mise en evidence et identification des pellicules de
lubrifiant dans les analyses de défauts et de
dommages: l’huile de base et les additifs (1/2).
H. Feld, N. Oberender, J. Hellwig: Oberflächen POLYSURFACES,
5-6 (2022), 13-17.

Les substances protectrices contre la rouille de contact
sur les transmetteurs àbague collectrice (2/2).
H. Feld, N. Oberender, J. Hellwig: Oberflächen POLYSURFACES, 1 (2023), 34-36.

Kollateralschäden durch falsche Schmierstoffe.
H. Feld, N. Oberender, J. Hellwig: mo Magazin für
Oberflächentechnik, 76 (2022) (9) 52 – 56.
www.oberflaeche.de

Nachweis und Identifizierung von Schmierstoffbelägen
in der Fehler- und Schadensanalytik (1/2).
H.Feld, N. Oberender, J. Hellwig: Oberflächen Polysurfaces, 3 (2022) 13 – 17.

Kontaktschutzöl auf Schleifringüberträgern (Teil 2).
H.Feld, N. Oberender, J. Hellwig: Oberflächen Polysurfaces, 4 (2022) 18 – 20.

Laser-SNMS Investigations on Pyrene using Ga+, Bi1+, Bi3+ and Bi5+ as Primary Ions, and Different Laser Wavelengths and Laser Power Densities for Photoionization
S. Galla, A. Pelster, F. Draude, H. F. Arlinghaus : Surface and Interface Analysis; 45(1), 31–34, (2013).
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Surface analysis. Knowledge versus risk. – Part 2.
R. Dietrich: European Coatings Jounal, (07/08) (2009) 34 – 37.

Surface analysis. Knowledge versus risk. – Part 1.
R. Dietrich: European Coatings Jounal, (04) (2009) 126-131.

Buch: Paint Analysis
R. Dietrich: Vincentz Network, (2009)

Buch: Instrumentelle Lackanalytik
R. Dietrich: Verlag Vincentz, (2006)

Entwicklung eines UV-härtenden Klarlacks für Kunststoffaußenbauteile
J. Hellwig: Diplomarbeit, Münster (2003)

Krater im Lack – Lackierungsstörungen analysieren
R. Dietrich: Metalloberfläche, 53 (1999) 35 – 39.

Fehlern auf der Spur: Haftungs- und Benetzungsstörungen an lackierten Bauteilen
R. Dietrich: Metalloberfläche, 49 (1995) 190 – 191.

Krater in Pulverbeschichtungen: Kleine Ursache, große Wirkung
H. Feld: Journal für Oberflächentechnik, 34 (1994) 70 – 76.

Quantification of Molecular SIMS by Internal Standards
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Organic template directed growth of one- and two-dimensional GeX2/template superstructures
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L. Chen, P.J. Klar, W. Heimbrodth, N. Oberender, De. Kempe, M. Fröba: Appl. Phys.Lett., 77, 24 (2000) 3965.
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First Sythesis of Mesostructured Thiogermantes
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20 Ursachen, warum Relais ausfallen können, Teil 2
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20 Ursachen, warum Relais ausfallen können, Teil 1
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TOF–SIMS und IR–Spektroskopie in der Oberflächenanalytik chemisch modifizierter Siliciumwafer
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Im Dienst der Umwelt und der Wertschöpfung
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In-Situ FT-IR Studies of Porous Silicon Surface Reactions
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Die unkontrollierte Verbreitung von quartären Ammoniumverbindungen (QAV) in Alltagsprodukten sowie in medizinischen und industriellen Bereichen – kritisch für Mensch, Material und Umwelt
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Novel application of Static SIMS and PDMS to coordination compounds. Part I: Metal complexes with a small number of metal centers
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Analysis of ionic metal complexes by time-of-flight secondary ion mass spectrometry and plasma desorption mass spectrometry
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Formation of Very Large Gold Superclusters (Clusters of Clusters) as Secondary Ions up to (Au13)55 by Secondary Ion Mass Spectrometry
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Bericht über die Entdeckung von (Au13)n – Superclustern
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Secondary ion mass spectra of gold super clusters up to 140000 Dalton
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Carbon Cluster Emission from Polymers under Kiloelectronvolt and Megaelectronvolt Ion Bombardment
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Implementierung einer Bismut-Cluster-Primärionenquelle für analytische Anwendungen in der Laser-Sekundärneutralteilchen – Massenspektrometrie
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H. Feld, Dissertation, Münster (1991)

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry of insulators with pulsed charge compensation by lowenergy electrons
B. Hagenhoff, D. van Leyen, E. Niehuis, A. Benninghoven: Journal of Vacuum Science & Technology, A7(5) (1989) 3056 – 3064.
DOI: https://doi.org/10.1116/1.576315

Design and performance of a reflectron based time – of – flight secondary ion mass spectrometer with electrodynamic primary ion mass separation
E. Niehuis, T. Heller, H. Feld, A. Benninghoven: Journal of Vacuum Science & Technology, A5(4) (1987) 1243 – 1246.
DOI: https://doi.org/10.1116/1.574781

A New High Resolution Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer
E. Niehuis, T. Heller, H. Feld, and A. Benninghoven: Abstr. 35th ASMS Conference on Mass Spectrometry and Allied Topics, p.296 – 297; Denver (Colorado) 1987.

High-Resolution TOF Secondary Ion Mass Spectrometer
E. Niehuis, T. Heller, H. Feld, and A. Benninghoven: Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V, p.188 – 190; Springer Series in Chemical Physics, Volume 44; Springer, Berlin 1986.
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-82724-2_48

Development and performance of Time – Of – Flight Secondary Ion Mass Spectrometers
E. Niehuis, T. Heller, H. Feld, and A. Benninghoven: Abstr. 34th ASMS Conference on Mass Spectrometry and Allied Topics, p.762 – 763; Cincinnati (Ohio) 1986.

High–Resolution TOF Secondary Ion Mass Spectrometer
E. Niehuis, T. Heller, H. Feld, and A. Benninghoven: Ion Formation from Organic Solids (IFOS III),
p.198 – 202; Springer Proceedings in Physics, Volume 9; Springer, Berlin 1986.
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-82718-1_37

Aufbau und Erprobung eines Flugzeitmassenspektrometers für die Sekundärionenmassenspektrometrie
H. Feld, Diplomarbeit, Münster (1985)